台灣羅德史瓦茲

隨著半導體技術的快速演進，IC 設計與系統開發公司面臨更高頻、更高速、更精密的測試與驗證挑戰。當數據傳輸速率提升、電源管理要求更加嚴苛、混合訊號架構日趨複雜，傳統測試方法已難以應對新世代產品開發需求。本研討會特別針對 IC 設計的研發、驗證、應用、測試工程師及自動化測試部門量身打造，深入探討四大核心測試領域，包括高速數位訊號完整性分析、電源管理測試、混合訊號測試技術與自動化測試開發，協助工程師提升測試效率、確保產品品質，並加速上市時程。

研討會將涵蓋高速訊號完整性與時序測試，包括 PCIe 5.0 Jitter 量測、眼圖與阻抗量測，確保高速傳輸訊號的可靠性。在電源管理測試方面，我們將探討 LDO 噪聲密度分析、電源抑制比 (PSRR)、以及 EMI Debugging 方法，幫助工程師確保電源品質與系統穩定性。此外，針對 ADC 測試，我們將說明如何透過高線性訊號源技術來提升測試準確度，並優化數位類比轉換性能。最後，我們將介紹整合 LabVIEW 的自動化測試方案，涵蓋 Web Control、SCPI Recorder與測試數據分析，實現更高效的測試流程。

透過業界專家的技術解析與實測演示，本研討會將帶您掌握最新的 IC 測試趨勢與技術，優化測試流程，確保產品符合市場需求，共同迎戰未來 IC 產品的測試挑戰！