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寬能隙功率元件的量測
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課程代碼
Power Devices
課程時間
2026/6/25 (Thu.) 10:00-11:00 AM
主辦單位
台灣羅德史瓦茲
協辦單位
城市
地點
線上研討會不限地點
是否收費
報名人數
無上限
簡介

本次線上研討會將深入探討寬能隙 (WBGT) 功率元件量測所面臨的挑戰,並以實際案例闡述。涵蓋準確的抓取所有相關訊號設備和探頭所需要的關鍵量測方法。

從發電到用電,能量轉換涉及多個階段,而每個階段皆面臨獨特的挑戰。隨著市場對高效能能量傳輸需求的成長,氮化鎵 (GaN) 和碳化矽 (SiC) 等新型半導體技術應運而生。這些 WBGT 技術能夠提供更高的開關頻率、更低的功率損耗和更強的傳輸能力。然而,這些進步也為量測帶來了新的挑戰。

R&S 專家將探討電晶體開關電路特性分析所需的量測技術與最佳實踐,包括對 WBGT 功率系統高側電晶體進行關鍵電流和電壓量測。

我們將深入探討:

  • 高頻寬且具備優異共模抑制比 (CMRR) 的差分高壓探頭選擇,以精確擷取高側開關的閘極源電流和並聯電流訊號
  • 電壓與電流探頭的去偏斜校正,使其訊號時間對齊,從而確保動態功率計算的可靠性
  • 辨識並抑制佈局和探頭引起的寄生效應,這些效應會導致振鈴、過衝和其他波形失真
  • 如何應用成熟的量測最佳實踐,將這些技術轉化為清晰可靠的數據,用於 WBGT 功率元件設計

活動議程
時間活動議程活動講師下載
2026/6/25. THU. 寬能隙功率元件的量測
講師介紹
Marcus Sonst
Marcus Sonst / Rohde & Schwarz Application Development Engineer
Marcus holds a master degree in electrical engineering with focus on power / energy from the University of Applied Sciences in Dortmund (Germany).

He has more than 20 years of experience with development, design, and test of power supplies and electronic ballasts.

Today he is application development engineer at Rohde & Schwarz and responsible for power management and power electronics test with focus on time domain measurements.