台灣羅德史瓦茲

該網路研討是為從事高速數字電子設備設計和測試的工程師特別安排。在驗證設計之前，必須校準網路分析儀以確保僅測量待測物。使用同軸轉接器時，校準可以直接進行。但是，許多待測物（例如印刷電路板上的待測物）沒有同軸轉接器，因此需要使用治具具來轉接特殊的連接器。 S 參數去嵌入可用於準確補償治具效應和引入線。
首先，我們將簡要介紹 S 參數和校準的基礎知識，從而概述治具補償方法。在本次網路研討會中，我們將展示並示範 IEEE STD 370 中定義的高級去嵌入和治具建模。我們將討論USE CASE，立即報名點擊，一次收獲反嵌入的 PCB 測試、連接器測試治具補償、電纜測試治具補償、SoC 測試治具補償、無同軸連接器的 RF 設備等。