Dr. Milton Lien / Sr. Principal Application Engineer; Cadence
任職於Cadence AWR產品技術服務部門,為國立台灣大學電信工程學博士。他多年負責東南亞國協(ASEAN)及大中華區AWR產品技術支持工作,與各公司機構研究部門在RF微波應用上有廣泛實務交流,另外他研究興趣包括MMIC、SI、EMC和計算電磁。
使用模擬和硬件測試工具設計 RF 組件和系統的工程師們,這是一場絕不可錯過的線上研討會!
R&S與 Cadence 合作開發的新解決方案,可增強廣泛用於執行 EDA 模擬的功能,允許在 EDA 系統模擬和硬體測試中使用真實信號,從而簡化 RF 零件和系統的開發過程。根據最新的 5G NR 或 Wi-Fi 規範對複雜的寬頻信號進行模擬,能獲得比以前更真實的結果;使用與後續硬體測試相同的信號創立方法和分析演算法可確保從早期設計到實現驗證的直接關聯。為實現此目標,R&S的信號產生器和分析儀已整合到 Cadence 的 VSS 模擬工具中 — R&S的解決方案VSESIM-VSS將展示更有效率的新方法,以及如何從中受益。
同時設計射頻前端和射頻功率放大器,並實現最佳誤差向量幅度 (EVM) 性能的工程師們,將透過本次線上研討會,瞭解如何以線性化聯合解決方案,在擁有可用硬體之前,提前洞察額外的系統級性能。儘管 RF 前端在接近飽和狀態下運作以實現最佳能效時,是高度非線性的,但我們的新做法能深入瞭解、使用線性化功能並改進,進而成就 RF 鏈的低信號失真。
R&S®VSESIM-VSS 可根據最新的 5G 和 Wi-Fi 規範創立和分析信號;將符合實際標準的信號性能調查與 R&S VSE Direct DPD 方法的線性化相結合,展示信號純度和 EVM 方面的可能性。
立即報名,瞭解與真實硬體相關的 VSS 展示,可獲得將設計工具 VSS 中的線性化,與使用R&S儀器測試的設備實際性能比較資訊。
時間 | 活動議程 | 下載 |
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15:00 - 16:30 | 從設計到實現RF待測物 — EDA模擬中RF功率放大器線性化的優勢 | Download |