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PCI Express Gen 3- 認證及除錯測試
我要參加研討會
課程代碼
2021 PCIe Gen 3
課程時間
主辦單位
台灣羅德史瓦茲有限公司
協辦單位
是否收費
免費
報名人數
無上限
簡介

 

如果您是從事高速數位設計和測試的工程師,或是對相關議題感興趣,本次線上研討會將是您不可錯過的重要活動!

我們將聚焦於 PCIe Gen 3 界面,除概述 PCIe 技術外,也將討論 PCIe 測試的一致性、協議觸發和解碼以及信號完整性除錯目的,從系統互通性驗證開始,有關解碼、序列觸發、眼圖測試、反嵌入、阻抗控制和抖動分析的詳細資訊,都將在本次線上研討會中一次釋出 — 當驗證測試失敗時,這些都有助於確定根本原因,您將在本次線上研討會看到實際案例和展示說明,協助您令 PCIe 測試變得簡單可靠。

 

活動議程
時間活動議程下載
10:00 ~ 11:00PCI Express Gen 3- 認證及除錯測試 Download
講師介紹
許銘仁(Bryant Hsu)
許銘仁(Bryant Hsu) / 台灣羅德史瓦茲應用工程部副理
許銘仁先生具有多年高頻元件開發與系統測試經驗,尤其在無線通訊產品內藏式天線設計、專利撰寫、論文發表、CTIA OTA與SAR認證測試,並有數篇發明與新式樣專利和論文產出。著重於實務應用與射頻測試領域,包含主被動元件、射頻電路、高速匯流排、無線收發模組、雷達、毫米波元件特性與天線OTA輻射場型測試、品質分析與產線自動化解決方案,同時並擔任IEEE AP-S台南分會執行祕書。
李國筠
李國筠 / 專案經理
李國筠女士畢業於國立中山大學電機系電波組博士班,具有手機及筆記型電腦天線開發、人工智慧動作辨識系統開發,及專利佈局智慧財產管理等跨領域整合經驗,目前任職川升股份有限公司,負責OTA開發之前期規格研究導入與專利佈局,擁有超過20篇論文發表與美、中、台三地專利發明人,曾擔任仁寶電腦RF技術處高級工程師、工研院微系統科技中心前瞻計畫主持人、安諾電子天線副理、聖島專利商標事務所科技群專利工程師。近年專注於川升的研發工作與政府計畫申請及管理,並致力參與南部學校天線與量測課程教學,協助南部科大學子掌握產業5G相關技術
注意事項
  • 本活動一律採取網路報名。
  • R&S將於 報名時與活動前一天以電子郵件方式寄發「通知信」 ,提醒與會。
  • 由於郵件透過代理伺服器發送,可能會遭貴司伺服器擋信或判斷為垃圾郵件,若您未收到「通知」請來電詢問。
  • 主辦單位保留報名資格之最後審核之所有權利。