許銘仁(Bryant Hsu) / 台灣羅德史瓦茲應用工程部副理
許銘仁先生具有多年高頻元件開發與系統測試經驗,尤其在無線通訊產品內藏式天線設計、專利撰寫、論文發表、CTIA OTA與SAR認證測試,並有數篇發明與新式樣專利和論文產出。著重於實務應用與射頻測試領域,包含主被動元件、射頻電路、高速匯流排、無線收發模組、雷達、毫米波元件特性與天線OTA輻射場型測試、品質分析與產線自動化解決方案,同時並擔任IEEE AP-S台南分會執行祕書。
我們將聚焦於 PCIe Gen 3 界面,除概述 PCIe 技術外,也將討論 PCIe 測試的一致性、協議觸發和解碼以及信號完整性除錯目的,從系統互通性驗證開始,有關解碼、序列觸發、眼圖測試、反嵌入、阻抗控制和抖動分析的詳細資訊,都將在本次線上研討會中一次釋出 — 當驗證測試失敗時,這些都有助於確定根本原因,您將在本次線上研討會看到實際案例和展示說明,協助您令 PCIe 測試變得簡單可靠。
時間 | 活動議程 | 下載 |
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10:00 ~ 11:00 | PCI Express Gen 3- 認證及除錯測試 | Download |