台灣羅德史瓦茲

新世代行動通訊標準中，資料傳輸速率、覆蓋率、網路延遲、電池壽命以及頻寬等等對行動裝置至關重要。現今行動裝置系統組成日趨複雜，如記憶體、數位數理器、顯示及相機介面及日益增加的感測器等數位設計及充電、電源管理、或更高的電池壽命等電源議題，日益重要！

日益增加的數位介面所關注的信號完整度、印刷電路板相互間的測試、RF測試以及電源供應器的Power Integrity等測試問題，不僅行動裝置，且在基站端，因著日益複雜的系統設計，倍受挑戰！

本研討會Rohde & Schwarz的專家將針對高速數位界面的驗證所面臨棘手的電路板De-embedding議題，為使用者帶來新穎眼圖的測試解決方案。並為用者解析jitter分析在高度整合的系統中如何協助研發者debugging。在USB、SATA、MIPI等驗證方案，Rohde & Schwarz亦提出便捷的自動化測試及自動報告軟體，令研發工程師能輕鬆有效的完成繁瑣的測試步驟。電源工程師關注的電源完整性，該如何選用設備以及其對應的probe，並善用量測功能進而分析除錯，亦為本次研討會重點！機會難得，不容錯過！